Роль спектрального состава излучения

Для хроматических фазовых пластин спектральный состав входного излучения по определению имеет значение. Для расчетов, как и прежде, воспользуемся методом матриц Джонса. При вычислении интегральной интенсивности выходного светового потока вид спектрального распределения моделируем нормированной функцией Гаусса. Расчет влияния спектральной ширины входного излучения на ошибку определения задержки проводится, как и прежде на примере четвертьволновой ФП 13-го порядка (N=13.25) на длину волны He-Ne лазера (Рис.1)

Рис.1. Ошибка определения задержки в процентах от требуемой П/2 для разной спектральной полуширины зондирующего излучения в зависимости от ошибки толщины ФП при изготовлении δL в мкм.

Обозначения: δψ0(δL) – истинная ошибка задержки; δψ1(δL) – ошибка, измеряемая при спектральной полуширине зондирующего излучения 0,01 мкм; δψ2(δL) – ошибка при полуширине 0,02 мкм.

Из рис.1 видим, что зависимость средней волновой задержки от спектрального состава зондирующего излучения весьма слабая, т.е. тестировать точность фазовых пластин можно с помощью довольно широкополосного излучения. Но точность установления длины волны должна быть очень высокой. Спектральный состав излучения, как и в случае с угловой апертурой, сильно влияет не на задержку а на поляризационный контраст фазовой пластины. Таблица иллюстрирует такое влияние.

Используя данные таблицы  можно выбрать порядок фазовой пластины и спектральные характеристики рабочего излучения для получения при эксплуатации ФП нужный поляризационный контраст.